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安柏AT518低電阻測(cè)試儀毫歐表是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器，在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量 。 儀器可以測(cè)試10μΩ～20MΩ的電阻， Z大顯示數(shù)20000數(shù)。
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安柏AT511C低電阻測(cè)試儀毫歐表是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是 AT511M 的升級(jí)版本。 AT511C 相對(duì)于前代產(chǎn)品 AT511M，具有更廣的測(cè)試范圍：0.1mΩ～50.00kΩ，Z大顯示 5000 數(shù)。同時(shí)提升了測(cè)試速度：Z快可達(dá) 10 次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從Z高量程到Z低量程的切換。
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安柏AT2511毫歐表低電阻測(cè)試儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是AT511A的升級(jí)版本。 AT2511相對(duì)于前代產(chǎn)品AT511A，具有更廣的測(cè)試范圍：0.01mΩ～200.0kΩ，Z大顯示5000數(shù) 。同時(shí)提升了測(cè)試速度：Z快可達(dá)10次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從Z高量程到Z低量程的切換。
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安柏AT516L毫歐表低電阻測(cè)試儀低電阻測(cè)試儀采用高性能 ARM 微處理器控制和高密度SMD貼裝工藝，具有 0.1%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~30KΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有 30000 讀數(shù)，適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；AT516L標(biāo)配RS232通訊接口，可方便用于PLC通訊控制實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線上的自動(dòng)化操作
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安柏AT516毫歐表低電阻測(cè)試儀具有0.05%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~20MΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有30000讀數(shù)， Z高采樣速度為 7ms。儀器內(nèi)置溫度補(bǔ)償接口，用來(lái)補(bǔ)償因?yàn)闇囟人鸬恼`差。儀器內(nèi)置 14 檔比較器輸出，可設(shè)置 10 個(gè)合格檔，并且所有檔比較器結(jié)果可以通過 Handler 接口輸出。
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安柏AT510L毫歐表低電阻測(cè)試儀是一種采用高性能微處理器控制的毫歐表。可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。經(jīng)濟(jì)型，針對(duì)低電阻的電阻測(cè)試儀。為消除溫度對(duì)電阻值的影響，可選配溫度補(bǔ)償功能，適用于變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開關(guān)、接插件接觸電阻、導(dǎo)線電阻、元件焊點(diǎn)接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷等。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，
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